应用领域
适用于 RoHS、无卤要求的元素筛查（具备 Mapping 功能），玩具与日用消费品限制元素筛查，以及合金成分分析。原站将 CN-RoHS 指定认证检测实验室、大型企业集团中心检测实验室列为主要应用场景。
光路与测量功能
- **免拆分测量：**专利光路结构配合精确光斑定位，最小照射光斑直径 0.5 mm，用于复杂样品的直接测量。
- **样品混测与区域扫描：**原站记载采用 4 mm × 4 mm 方形光斑，配合 0.5 mm 光斑，对电路板等复杂样品开展区域扫描；其符合中国国家标准的声明应结合适用标准和具体测试条件确认。
- **16 组复合滤光片：**支持不同复杂样品的检测配置。
- **自动 Mapping：**提供区域扫描测量能力。
- **辐射防护：**采用迷宫式辐射防护结构。实际辐射安全以设备验收、适用规范和正确操作为准。
- **操作设计：**仪器外形考虑人体工程学与测量操作便利性。
分析方法与软件
分析方法包括基于蒙特卡洛计算模型的基本参数法、经验系数法、理论 α 系数法。
软件支持：
- Pb、Hg、Cd、TCr（总铬）、TBr（总溴）、Cl 等元素含量分析，用于环保要求的筛查。
- 金属、无机非金属材料（不包括聚合物）的材质分析，元素范围 S–U。
- 聚合物等有机材料中 S–U 元素的含量分析。
- 分析报告自主定制、输出与打印，结果保存、查询及统计。
- 多层镀层厚度测量功能。
- On-Line 实时在线技术支持与培训服务。
内置面向 EU-RoHS 与 CHINA-RoHS 产品认证基础材料的标准工作曲线；开放工作曲线平台支持为工厂特定物料建立曲线。软件分为操作员、工程师两级菜单，分别服务日常测量和参数设置管理。
配置与选配
| 项目 | 原站配置说明 |
|---|---|
| 探测器 | SDD 硅漂移电制冷半导体探测器 |
| X 射线管 | 侧窗钼（Mo）靶管 |
| 滤光片 | 标配 16 组复合滤光片 |
| 准直器 | Φ0.5 mm、Φ1 mm、Φ3 mm、Φ4 mm |
| 扫描 | 自动 Mapping、样品混测 |
| 曲线平台 | 内置标准曲线，开放自定义工作曲线 |
| 权限管理 | 操作员、工程师两级 |
原站技术特点将 On-Line 技术支持列为选配，但主要配置中也列出该平台，交付配置需确认。可选“影响权系数法”多层镀层测厚功能，原站记载最多测量 9 层，并涵盖塑料基体镀层厚度测量。
产品参数
| 项目 | 参数 |
|---|---|
| 名称 / 型号 | X 荧光光谱仪 / NDA500 |
| 输入电压 | 220 ± 5 V / 50 Hz |
| 消耗功率 | ≤500 W |
| 环境温度 | 15–30 ℃ |
| 环境湿度 | ≤80%，不结露 |
| 主机尺寸（长 × 宽 × 高） | 900 × 500 × 440 mm |
| 样品仓尺寸（长 × 宽 × 高） | 430 × 380 × 120 mm |
| 主机重量 | 约 60 kg |
| 元素范围 | 硫（S）至铀（U） |
| 典型测量时间 | 聚合物材料 30 秒；铜基体材料 30 秒 |
检出限（LOD）
| 材料 | 原站公布的指标 |
|---|---|
| 聚合物 | Pb、Hg、TCr、TBr、Cd：分别 ≤5 mg/kg |
| 铜基体 | Pb：≤50 mg/kg |
精密度：原文标记待核实
原文称精密度以连续测量 7 次的标准偏差 σ 表征，但随后误用 LOD 标记。以下保留原始数值与标记，不将其视为已经核实的标准偏差规格。
| 材料 | 原文“精密度”段落的记录 |
|---|---|
| 聚合物（塑胶） | LOD（Pb）、LOD（Hg）、LOD（TCr）、LOD（TBr）：分别 ≤15 mg/kg；LOD（Cd）：≤7 mg/kg |
| 铜基体 | LOD（Pb）：≤50 mg/kg |
准确度：系统偏差 δ
| 材料 | 原站公布的指标 |
|---|---|
| 聚合物 | δ（Pb）、δ（Hg）、δ（TBr）、δ（TCr）：分别 ≤100 mg/kg；δ（Cd）：≤10 mg/kg |
| 铜基体 | δ（Pb）：≤150 mg/kg |
以上为原站技术资料，具体样品基体、测量条件、配置与验收指标需确认。元素筛查结果应结合适用检测方法解释。